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MC022系列薄膜测厚仪(CH-1-S) |
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MC022系列薄膜测厚仪
MC022系列(CH-1-S)
一、CH-1-S型薄膜测厚仪概述:
CH-1-S型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
二、CH-1-S型薄膜测厚仪主要参数:
1. 量程：0-1mm 分度值：0.001mm
2. 上测头曲率半径：15-50mm
3. 测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N
4. 测量精度：100vm以内＜1vm
100-250vm＜2vm
250vm＜3vm
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